X-RAY FLORESANS SPEKTROMETRE

X-ışınları Floresans (XRF) spektroskopisi elementel kompozisyonu belirlemede kullanılan önemli yöntemlerden biridir.

X-Işınları Floresans Spektrometresi ile;

• Si, Al, Ti, Mn, Mg … gibi ana element oksitleri yüzde (%) ağırlık cinsinden (MnO, MgO …)
• Rb, Ba, Sr … gibi eser elementleri,
• Cr, Ni, Co, Cu ve Zn gibi geçiş elementlerini,
• La, Ce, Pr, Nd … gibi nadir toprak elementlerinin ppm düzeyinde analiz edilir.

Atom numarası 9 ile 92 arasında olan elementlerin kantitatif analizini yapar. Atom numarası 9’un altında olan elementleri inceleyemez. Kimyasal bağ derecesinde yeterince hassas değildir. XRF genelde 50kV ve 50mA’da çalışır.